Home

Quick-Links

Codierungstheorie (Vorlesung) Promotionsstipendien

Unser Know-how...


On-line Fehlererkennung    Test und Diagnose großer VLSI-Schaltungen   Codes zur Fehlererkennung & Fehlerkorrektur   Selbstprüfende Schaltungen   X-tolerante Datenkompaktierung für den Hochvolumen-Test   Erkennung & Korrektur von Soft Errors  


Patente

Die folgenden in der Arbeitsgruppe Fehlertolerantes Rechnen entwickelten Patente sind für eine wirtschaftliche Nutzung verfügbar:

Partner und Forschungsprojekte

DEDIS Unsere Doktoranten arbeiten im Graduiertenkolleg der Internationalen Cottbuser Graduiertenschule DEDIS-Nano mit.

Bücher

cover: New Methods of Concurrent Checking Wir möchten auf das Buch "New Methods of Concurrent Checking" von M. Gössel, V. Ocheretny, E. Sogomonyan und D. Marienfeld aufmerksam machen.
ISBN: 978-1-4020-8419-5